三坐標(biāo)實(shí)現(xiàn)掃描功能有三個(gè)方案：
一是不增加硬件裝備，直接用三坐標(biāo)測(cè)針打點(diǎn)獲取數(shù)據(jù)，通過圖像處理軟件來處理成為所需要的3D圖；
二是在三坐標(biāo)基礎(chǔ)上加裝三維激光掃描頭，通過激光掃描來獲取點(diǎn)云數(shù)據(jù)，再進(jìn)行圖像處理；
三是三坐標(biāo)加裝高速掃描測(cè)頭，以下是執(zhí)行旋轉(zhuǎn)高級(jí)掃描功能的介紹：
1.執(zhí)行旋轉(zhuǎn)掃描。參見“掃描零件”部分的“執(zhí)行旋轉(zhuǎn)高級(jí)掃描”。
2.使用查找標(biāo)稱值、重新學(xué)習(xí)和無 CAD 掃描，通過新數(shù)據(jù)構(gòu)造曲線，并將曲線最接近的點(diǎn)與原掃描點(diǎn)比較。這樣可以通過與原數(shù)據(jù)集比較進(jìn)行連續(xù)掃描。參見“掃描零件”部分的“標(biāo)稱值模式”。
3.將邊界點(diǎn)重置為零。這在創(chuàng)建包含許多邊界點(diǎn)的連續(xù)片區(qū)掃描時(shí)非常有用。參見“掃描選項(xiàng)”部分的“清除邊界點(diǎn)”。
4.維護(hù)從片區(qū)掃描線終點(diǎn)到下一個(gè)線段起點(diǎn)的當(dāng)前觸測(cè)增量。這樣可以為曲面應(yīng)用程序和反向工程應(yīng)用程序產(chǎn)生更加平整的數(shù)據(jù)。這僅適用于接觸式觸發(fā)測(cè)頭 (TTP)。參見“設(shè)置首選項(xiàng)”部分的“片區(qū)掃描維護(hù)上一個(gè)增量”。
5.對(duì)所有掃描類型使用“自動(dòng)移動(dòng)”。參見“掃描選項(xiàng)”部分的“自動(dòng)移動(dòng)”。
6.對(duì)周邊掃描以外的所有掃描類型使用 NULL 過濾器方法。參見“掃描選項(xiàng)”部分的“開放路徑的 NULL 過濾器方法”主題。更多詳細(xì)三坐標(biāo)測(cè)量知識(shí)請(qǐng)見三坐標(biāo)網(wǎng)站http://m.devanarch.com
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