三坐標(biāo)測量儀工作原理 三坐標(biāo)測量機(jī)CMM的測量方式根據(jù)所需測量產(chǎn)品特性通常可分為接觸式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸復(fù)合式測量，目前三坐標(biāo)測量機(jī)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于汽車、航天工業(yè)、模具及機(jī)加工領(lǐng)域并在學(xué)?？蒲袉挝灰驳玫搅藦V泛使用對提升國內(nèi)產(chǎn)品總體競爭力取到不不可忽視的作用。

   三坐標(biāo)測量儀的測量方法分 1、接觸式探針測量三坐標(biāo)測量儀（最常用使用最普遍）； 2、影像復(fù)合式三坐標(biāo)測量儀； 3、激光復(fù)合式三坐標(biāo)測量儀（主要應(yīng)用于產(chǎn)品測量與逆向抄數(shù)掃描）；我們將根據(jù)客戶的產(chǎn)品特點(diǎn)與測量要求提供最適合客戶的測量產(chǎn)品。三坐標(biāo)測量 三坐標(biāo)測量機(jī)CMM的測量方式通?？煞譃榻佑|式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。其中，接觸測量方式常用于機(jī)加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數(shù)據(jù)，或?yàn)槟嫦蚬こ烫峁┕ぜ夹畔?，?jīng)常需要用三坐標(biāo)測量機(jī)對被測工件表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)掃描。三坐標(biāo)測量機(jī)的掃描操作是應(yīng)用DMIS程序在被測物體表面的特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集，該區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線等。將被測物體置于三坐標(biāo)測量空間，可獲得被測物體上各測點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算求出被測物體的幾何尺寸，形狀和位置?；驹砭褪峭ㄟ^探測傳感器（探頭）與測量空間軸線運(yùn)動的配合，對被測幾何元素進(jìn)行離散的空間點(diǎn)位置的獲取，然后通過一定的數(shù)學(xué)計(jì)算，完成對所測得點(diǎn)（點(diǎn)群）的分析擬合，最終還原出被測的幾何元素，并在此基礎(chǔ)上計(jì)算其與理論值（名義值）之間的偏差，從而完成對被測零件的檢驗(yàn)工作.